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入射角 修正系数 
72 个 BOM 的 IAM 测试结果持续显示与 PVsyst 默认 Fresnel ARC 模型高度一致。虽然精确的 IAM 测试能够区分不同 BOM 之间的细微差异，但 Kiwa PVEL 的测量结果很可能与部分制造商提供的过于乐观的 IAM 曲线相矛盾。
72
2026 Scorecard 数据集中接受 IAM 测试的 BOM
0.04%
相较默认模型的能量产出中位影响
0.57%
能量产出影响范围
入射角修正（IAM）系数用于评估光伏组件对不同入射角光线的响应。IEC 61853-2:2016 定义了一种室内测试方法，通过测量短路电流（Isc）来表征光伏器件在不同入射角（AOI）下的 IAM 值。Kiwa PVEL 对该测试方法进行了改进，可同时获取玻璃/背板与玻璃/玻璃组件的 IAM 曲线。这种独特的室内 IAM 测试方法在精度和重复性方面达到了世界领先水平。
关键 洞察
与默认模型一致
0.04 %
相比 PVsyst 默认模型的能量产出中位提升
过去一年中，Kiwa PVEL 使用行业领先的测试方法进行测量，结果持续表明商业组件的 IAM 值与 PVsyst 默认 Fresnel ARC 模型保持一致。在拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟中，使用实测 IAM 曲线相比 PVsyst 默认模型的能量产出中位提升仅为 0.04%。
结果范围
0.57 %
IAM 数据集中的能量产出影响范围
凭借全球精度最高的 IAM 测试，Kiwa PVEL 能够可靠测量不同 BOM 之间 IAM 性能差异。表现最佳 BOM 的模拟能量产出相比最差 BOM 高出 0.57%（基于美国拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟）。更多内容请参见测试结果聚焦部分。
电池技术影响
0.2 %
HJT 相比 TOPCon 与 PERC 的能量产出影响降低
虽然 HJT 的样本数量较少，但 Kiwa PVEL 的 IAM 测量结果表明，HJT 组件平均具有比 TOPCon 和 PERC 更低的 IAM 能量产出影响。在美国拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟中，这一差异表现为能量产出降低 0.2%，原因可能与 HJT 电池中非晶硅对蓝光的吸收有关。
IAM 测试 结果聚焦
BOM 差异会导致可测量的 IAM 性能变化。一些制造商/BOM 在电池之间使用导光膜（LRF）以将反射光导向电池。近年来，LRF 越来越流行，在 2026 Scorecard 数据集中，30% 的 IAM 测试 BOM 使用了 LRF。虽然 LRF 能提高功率输出（在垂直入射条件下测量），但会轻微降低 IAM 性能。下图展示了在同一 IAM 测试仪上测试的一组 TOPCon BOM，对比使用和未使用 LRF 的模块性能。带有 LRF 的模块在拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟中的能量产出比未使用 LRF 的模块低 0.12%。
与 PVsyst Fresnel ARC 默认值（表示为 0.0）相比，实测 IAM 对美国拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟能量产出的影响。
查看箱线图解释指南
IAM 曲线 图表结果
过去一年中，Kiwa PVEL 对 72 个 BOM（每个 BOM 测量三个样品）的 IAM 测试结果持续表现出较高一致性。平均来看，这些测量结果在 30 度以内与 PVsyst Fresnel ARC 默认模型一致，并在 50 度及以上优于该默认模型。
2026 Scorecard 数据集中 72 个 BOM 的 IAM 测试结果显示出很强的一致性，并附带 PVsyst Fresnel ARC 默认模型作为参考。
PAN 与 IAM 测试流程、评估的光伏组件材料以及 PAN 重要性的案例研究，可在 kiwa.com/pvel 查看。
1. Riedel-Lyngskær N, Santamaría Lancia AA, Plag F 等. 光伏器件角度相关测量的实验室间比较：结果及其对能量评级的影响. Prog Photovolt Res Appl. 2021;29:315–333. https://doi.org/10.1002/pip.3365
2. Kiwa PVEL 在最高 60 度 AOI（入射角）下的总扩展不确定度小于 0.5%。此前 IAM 不确定度对比研究中，其他实验室自报的总扩展不确定度范围为 1.2% 至 2.5%。
