电势诱导衰减

过去一年中，PID测试结果有所改善，2025年生产的BOM中有82%在PID(-)测试后功率损失低于2%。然而，PID仍然是一个重要的可靠性问题，其中15%的PID BOM出现了PID失效，且有一个BOM表现出超过20%且无法恢复的PID功率损失。

71%

BOM被评为PID最佳表现者

144

制造商被评为PID最佳表现者

15%

的BOM发生了PID失效

更低功率损失

83%

2025年生产的 BOM 中，83% 在 PID(-) 测试后功率衰减低于2%。

相比2024年生产的 BOM 中72%的样品功率衰减低于2%，这是一次具有统计学意义的提升。PID(-) 测试后的中位衰减值从2024年的1.5%下降至2025年的1.1%。平均 PID(-) 功率损失也有所改善。更多详情请参见下方功率衰减图。

失效仍然存在

15%

15%的 BOM 至少发生过一次 PID 失效

在 PID 测试中检测到的失效包括：6%的 PID BOM 出现功率损失失效，5%出现分层失效，2%出现安全失效，1%出现旁路二极管失效。更多详情请参见失效页面。

PID 极化

83%

83%的 PID 功率损失失效由 PID 极化引起

在6个出现 PID 功率损失失效的 BOM 中，有5个受到 PID 极化影响。虽然这种衰减通常在短时间紫外线照射后可恢复，但已有报告指出，在某些现场条件下 PID 极化仍可能发生。

PID(-) 与 PID(+)

82%

82%的 BOM 在负极性 PID 下的衰减高于正极性 PID。

在2026 Scorecard 数据集中，仅有1个 BOM 在 PID(-) 下衰减低于2%，而在 PID(+) 下衰减大于等于2%，因此未能成为 Top Performer。相反，在 PID(+) 下衰减低于2%的 BOM 中，有18%在 PID(-) 后衰减大于等于2%。

PID测试结果亮点

尽管PID分流（PID-s）是一种众所周知的失效模式，但在部分BOM中仍然持续出现PID-s案例。最近有一个BOM在PID192(-)测试后表现出特别高的PID极化功率损失（>20%），主要由填充因子损失所导致。值得注意的是，在低辐照条件下，性能衰减更加严重，接近30%。PID192(-)测试后的EL图像显示出“棋盘格”图案，并伴随着边缘发黑加剧。制造商随后提交了新的PQP样品进行PID复测，并在PID192(-)后实现了小于2%的功率损失。这表明，强有力的电池片质量控制不仅是可行的，而且对于确保良好的PID抗性至关重要。