LID + LETID

過去一年中，LID+LETID 出現超過 1% 功率損失的 BOM 數量有所增加，在初始特性測試、LID 及／或 LETID 測試期間發生故障的數量也同步增加。功率損失增加可能與接受 PQP 測試模組所使用的新電池工廠數量增加有關。

71%

BOM 為 LID + LETID 頂尖表現者

144

製造商為 LID + LETID 頂尖表現者

13%

BOM 發生初始 LID + LETID 故障

衰减增加

79 %

的测试 BOM 在 LID 与 LETID 组合测试中的功率损失低于 1%。

相比 2025 Scorecard 中 93% 的 BOM 功率损失低于 1%，该比例有所下降。2025 年生产的 BOM 相比 2024 年，其功率损失中位数和平均值略有增加（尽管统计意义不明显）。新的电池工厂可能是导致这一变化的原因。更多内容请参阅下方功率衰减图表。

失效仍然存在

13 %

的 BOM 至少发生了一次初始、LID 和/或 LETID 失效。

在初始、LID 和 LETID 测试期间检测到的失效包括：6% 的 BOM 在初始表征期间发生分层失效，3% 的 BOM 在初始表征或 LETID 测试期间发生安全失效，3% 的 LID BOM 发生功率损失失效，以及 1% 的 LID BOM 发生组件破裂。更多内容请参阅失效页面。

不同技术的 LID

0.4 %

所有电池技术的 LID 功率损失中位数

2026 Scorecard 合格 BOM 的 LID 功率损失中位数分别为：TOPCon 0.4%、PERC 0.6%、HJT 0.7%、xBC 0.6%。虽然 HJT 和 xBC 的样本量较少，但除 TOPCon 外其他电池技术的 LID 中位值上升值得关注。

不同技术的 LETID

0.1 %

所有电池技术的 LETID 功率损失中位数

2026 Scorecard 合格 BOM 的 LETID 功率损失中位数分别为：TOPCon 0.1%、PERC 0.1%、HJT 0.4%、xBC 0.1%。尽管各电池技术的 LETID 中位值较低，但某个 TOPCon BOM 的最大 LETID 功率损失达到 1.4%，表明这种失效模式尚未被完全消除。

LID + LETID 測試結果聚焦

鎵摻雜 PERC 與 n 型電池技術的導入，使 LID 在過去幾年降至極低水平；然而，新型摻雜材料可能改變此趨勢。近期一個採用磷與銻（P+Sb）共摻雜的 n 型 TOPCon BOM 即為案例。該 BOM 在 LID 測試後的平均功率損失達 1.9%，成為自 2020 年硼摻雜 PERC BOM 以來最高的 LID 測試結果。由於此衰減機制目前尚未完全明瞭，因此建議對 P+Sb 共摻雜技術進行更多研究。