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紫外线诱导 衰减 
Kiwa PVEL 在过去一年中观察到 UVID 测试结果有显著且具有统计学意义的改善。然而，UVID 仍然是组件可靠性和性能的重要问题，目前 TOPCon BOM 的 UVID 功率损失中位数为3.0%，表明仍有改进空间。
71%
BOM 被评为 UVID 顶级表现者
144
制造商被评为 UVID 顶级表现者
3%
的 BOM 出现了 UVID 失效
Kiwa PVEL’s Ultraviolet Induced Degradation (UVID) test goes beyond standard IEC/UL certification to identify modules that are susceptible to this degradation mechanism. While the 120 kWh/m2 test duration is not necessarily sufficient to reach the maximum amount of degradation resulting from UVID, this test is able to distinguish between UVID-susceptible and UV-stable modules. Kiwa PVEL has noted a range of UVID results across TOPCon and HJT modules.
关键 洞察
UVID 改进
3.0%
TOPCon UVID 功率损失中位数
过去一年的 UVID 测试结果表明，TOPCon BOM 的 UVID 性能有所提升，中位功率损失从 4.2% 降低至 3.0%。这可能归因于电池生产工厂在工艺和质量控制方面的改善；然而，对于部分制造商而言，UVID 仍然是一个挑战。
故障减少
3%
的 BOM 出现 UVID 故障
随着过去一年 UVID 功率损失中位数的降低，发生 UVID 故障的 BOM 比例也从 2025 年评分卡中的 6% 降至 3%。近期故障包括一个 BOM 在 UVID 测试后出现分层，以及另一个 BOM 的功率损失过高，以至于制造商对新样品重新进行了 UVID 测试。
户外 vs 室内
8%
第一年户外最大功率损失
PQP 的可选现场暴露测试发现，一些 BOM 在美国加利福尼亚州戴维斯部署一年后出现显著衰减（中位数：2%，最大值：8%）。这主要归因于 UVID，因为这些 BOM 在 LID 和 LETID 测试后的综合功率损失低于 1%，并且 EL 图像显示出明显的棋盘格图案。
暗存储亚稳态
1%
紫外线照射后每日最大功率损失
TOPCon 和 HJT 组件在测试完成后都会出现暗存储衰减；然而，这种影响在对 UVID 敏感的 TOPCon 组件中更加明显，其衰减速率最高可达每天 1% 的功率损失。短时间暴露于全光谱光照下，可以部分或完全逆转这种亚稳态衰减，使功率损失恢复到仅与现场相关的 UVID 水平。
UVID 测试 结果聚焦
即使来自同一供应商的电池，也可能在 UVID 敏感性方面存在显著差异。在此案例中，BOM 1 使用 M10 电池，在 UVID120 测试后出现了 14.1% 的功率损失。BOM 2 使用来自同一电池制造商的 G12R 电池，在 UVID120 测试后出现了 3.6% 的功率损失。这种差异完全由电池工艺配方决定（主要是电池钝化和抗反射层），即使是微小的变化也可能带来巨大影响。例如，更薄的 AlOx 层（4nm 对比 7nm）由于对移动氢的传输阻挡效果较差，会导致更低的 UVID 抗性[1]。为了确保 UVID 抗性，必须保证充足的电池生产工艺和质量控制。
BOM 1 - UVID120 后 - 14.1% 功率损失
BOM 2 - UVID120 后 - 3.6% 功率损失
BOM 1 显示了 UVID 后严重的“棋盘格”效应和功率损失，而 BOM 2 的 UVID 明显较低，但仍然超过了 Top Performer 的标准。点击每张图片可查看对应的完整尺寸 EL 图像。
M. U. Khan 等人，《电荷俘获、氢积累和结构重排：TOPCon 器件中紫外线诱导衰减的完整模型》。Solar Energy Materials and Solar Cells，298（2026年5月）：114149。 https://doi.org/10.1016/j.solmat.2025.114149
